发布《低本底α和/或β测量仪型式评价大纲》征求意见稿

       近日，*质量监督检验检疫总局发布《低本底α和/或β测量仪型式评价大纲》征求意见稿，并向全国的计量技术机构、科研院所以及相关的行业企业征求意见。

       该型式评价大纲适用于采用固体闪烁探测器和半导体探测器测量弱α、β放射性活度或表面发射率的仪器，也适用于多用途仪器中弱α或β放射性的部分。不适用于流气正比计数器以及液体闪烁计数器和测量α或β能谱类型等仪器的型式评价。

       据了解，评价大纲主要起草单位有中国测试技术研究院、中国计量科学研究院。该型式评价大纲为*发布，依据JJG 853—2013《低本底α、β测量仪》和GB/T 11682—2008《低本底α和/或β测量仪》文件中的条款，根据JJF 1002—2010《*计量检定规程编写规则》、JJF1016—2014《计量器具型式评价大纲编写导则》和JJF1015—2014《计量器具型式评价通用规范》的要求制订而成。

       该大纲所涉及的低本底α、β测量仪，主要用于环境样品、饮用水样品、药样品、同位素生产等辐射领域中α、β的活度测量。该装置主要由主探测器、反符合探测器、屏蔽体、测量和数据处理单元以及 计算机部件组成。

       该大纲所述低本底α和/或β测量仪，按测量放射性对象可分为：只测量α粒子的低本底α测量仪，只测量β粒子的低本底β测量仪，既测量α粒子又测量β粒子的低本底α和β测量仪（或低本底αβ测量 仪）。按可同时放置样品的数量可分为单样品道测量仪、多样品道测量仪。 按使用场合分为在实验室使用的固定式和在车船上使用的车船载移动式或便携式。 

       被测样品中的α或β粒子进入该仪器主探测器，其使用的闪烁体是专为其设计的α、β闪烁体，当α粒子进入闪烁体时，将全部的能量损失在ZnS(Ag)材料上，引起闪烁发光且发光时间较长，从而在光电倍 增管上产生一个脉冲宽度较宽的α信号。β粒子穿透能力较强，它穿过ZnS(Ag)材料进入β闪烁物质，也引起闪烁体发光，但是发光时间较短，这时光电倍增管也产生一个脉冲宽度较窄的β信号。当来自主探测器的信号进入主机后，主机对其信号进行处理。对噪声信号和电源纹波进行甄别，对宇宙射线和环境辐射进行反符合处理，而对α信号和β信号进行时幅变换，再在多道上显示其结果。 

       在编写中，该大纲参考了GB/T 11682—2008《低本底α和/或β测量仪》；JJG 853—2013《低本底α、β测量仪》；JJF 1016—2014《计量器具型式评价大纲编写导则》；JJF 1015—2014《计量器具型式评价通用规范》； GB/T 19661.1—2005 《核仪器及系统安全要求第 1 部分：通用要求》；JJF 1001—2011《通用计量术语及定义》； GB/T 6587—2012《仪器通用规范》；GB/T 12726.2—2006 《电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验》；GB/T 12726.3—2006《电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验》；GB/T 12726.4—2008《电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验》；GB/T 12726.5—2008《电磁兼容试验和测量技术浪涌（冲击）抗扰度试验》；GB/T 12726.6—1998《电磁兼容试验和测量技术射频场感应的传导骚扰抗扰度试验》； GB/T 12726.11—2008《电磁兼容试验和测量技术电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验》。

       此外，应遵从JJF1071-2010《*计量校准规范编写规则》的要求，此规范架构上包括封面、扉页、目录、引言、范围、引用文件、概述、计量特性、校准条件、校准项目和校准方法、校准结果表达、复校时间间隔、附录几个部分。